안녕하세요 포항공대 화학공학과 한정우교수님 연구실 김형준입니다.
ABF-STEM에 관해서 문의 드립니다.
제가 La과 Cu를 CeO2에 이중 격자 치환한 샘플을 분석하려합니다.
촉매 표면에 amorphous phase가 있는지 물질 구조와 결합을 확인하고,
저희의 관점에서는 표면 defect라고 하면 oxygen vacancy라고 생각을 하는데요.
표면의 defect도 확인할 수 있는지 궁금합니다.
KBSI에 정희석 박사님께 연락을 드렸었는데요. 거리도 멀고 분석일정도 3월까지 차있어서
RIST에서 더 잘 측정해주시는 분들이 많으시다고 연락을 받아 분석 상담드리려 글 남깁니다.
일반적으로 TEM, STEM의 image 측정과 EDS 분석정도는 경험을 한적이 있습니다만
고성능 STEM 장비는 처음 접하는 것이라서 답변 주시면 정말 감사드리겠습니다.
감사합니다.
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