시험분석서비스
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각종 소재의 산화층, 기능성 표면처리층의 조성, 형상, 구조, 두께 등에 대한 정보를 수nm의 수준까지 분석하여 소재의 표면 특성에 대한 정보를 제공
주요 분석 시료
주요 분석 기술
주요 장비
FE-SEM, XPS(ESCA), EPMA, SIMS, GDS, GD-MS, 방사광 XRD/EXAFS 빔라인
기술 자문 및 해석
담당자 | 전화 | 업무 | |
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강성 |
054-279-6932 |
sungkang@rist.re.kr | 표면분석(XPS, AES, AFM) 및 해석, 분석 컨설팅 |