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시험분석
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| [표면분석장비] 방사광 X선 산란(Synchrotron X-ray diffraction) | |
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| 장비유형 | 표면분석장비(방사광 가속기) |
| 기본원리 | X-선을 시료 표면에 조사하여 시료로부터 발생되는 회절 X-선의 Peak을 분리하여 물질마다 존재하는 고유의 회절패턴과 비교하여 원소의 상분석과 결정의 우선방위 측정. POSCO 빔라인은 4-21 keV X-선 에너지 영역에서 X-선 산란 실험을 위해 설계 되었다. (6+2)축 회절기 장치를 이용하여 분말회절, 박막, 단결정 X-선 산란 실험과 반사율 측정 등을 수행하기가 용이하다 |
| 모델명 | Oxford |
| 구성 및 사양 | (1)광원: 휨자석 (2)임계에너지: 8.73Kev at 3.0Gev (3)최대가용 빔발산각: 수평 3mrd, 수직 0.3mrd (4)사용에너지 : 4 ~ 21 keV at Si(111) (5)에너지분해능: (ΔE/E) : 2 × 10-4 (6)단위시간당 광자 수 : 1011 - 1012 photons/s (7)빔 크기 : 0.5 mm (H) x 0.2 mm (V) |
| 활용분야 | (1)분말회절, 박막, 단결정 X-선 산란 실험 (2)X-선 반사율 측정 (3)무기,유기화합물 등 각 분야 물질의 상분석 및 온도 상승에따른 상변태 추이 (4)연구용 철강, 비철, 광석 시료의 상분석 |
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