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| [미세조직 및 구조분석장비] 전계방출 투과전자현미경(Field Emission Transmission Electron Microscope) | |
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| 장비유형 | 미세조직 및 구조분석장비 |
| 기본원리 | 200KV 고전압의 전자빔을 시험편에 조사시켜 투과 또는 회절되는 전자빔을 이용하여 시험편의 미세조직 관찰 및 구조분석을 실시하며, 이때 발생하는 특성X-ray를 수집하여 미소영역의 성분 분포및 정성 정량 분석을 실시함. |
| 모델명 | FEI Tecnai OSIRIS |
| 구성 및 사양 | (1)가속전압:200kV STEM (2)가속전압:200kV STEM (3)EDS: Super SDD 30 mm2 x 4 Set 장착으로 High Speed Mapping, High Sensitivity 구현 (4)Resolution : point – 0.25 nm, STEM- 0.18 nm (5)STEM Mode: HAADF, BF, DF On Axis (6)Full Auto Computer control system. |
| 활용분야 | (1)철강, 비철금속의 미소영역의 미세조직 관찰 및 구조분석 (2)강중 석출물의 정성, 정량분석, 분포분석 및 구조분석 (3)도금층 단면 표계면 미소 산화층 원소 분포 분석 (4)미소 Powder 단면 관찰 및 원소 분포 분석 |
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