주메뉴
전체메뉴
시험분석
시험분석
> 장비소개 > 전체장비
| [미세조직 및 구조분석장비] 투과전자현미경(Transmission Electron Microscope) | |
|---|---|
| 장비유형 | 미세조직 및 구조분석장비 |
| 기본원리 | 200KV 고전압의 전자빔을 시험편에 조사시켜 투과 또는 회절되는 전자빔을 이용하여 시험편의 미세조직 관찰 및 구조분석을 실시하며, 이때 발생하는 특성X-ray를 수집하여 미소영역의 성분 분포및 정성 정량 분석을 실시함. |
| 모델명 | JEOL 2100F |
| 구성 및 사양 | (1)가속 전압 : 200KV (2)TEM 분해능 : 0.19nm (3)STEM 분해능 : 0.14nm |
| 활용분야 | (1)철강, 비철금속의 미소영역의 미세조직 관찰 및 구조분석 (2)강중 석출물의 정성, 정량분석, 분포분석 및 구조분석 (3)도금층 단면 표계면 미소 산화층 원소 분포 분석 (4)미소 Powder 단면 관찰 및 원소 분포 분석 |
 |
|
