시험분석
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각종 소재의 미소영역에 대한 형상, 조성, 결정구조, 방위관계 등에 대한 특성 분석을 통하여 재료의 특성 평가 및 결함 원인 조사 서비스를 제공
주요 분석 시료
주요 분석 기술
주요 장비
FE-SEM, SEM, FE-TEM, EPMA, EDS, EBSD, EELS, Confocal Microscope, XRD, FIB, CP (Cross Section Polisher)
기술 자문 및 해석
담당자 | 업무 | |
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장준하 |
joondury@rist.re.kr | 이차전지 투과전자현미경 분석 |
박정재 |
jungjae10@rist.re.kr | 전자현미경 분석 기술 개발(in-situ/cryo-EM 등) |
김충복 |
choongbog@rist.re.kr | [미세구조 파트장] [전자현미경] FIB, FE-SEM |