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    Q&A

    Re: 분석 상담입니다!

    • 작성자 : 관리자 작성일 : 19-01-30 조회수 : 1,614
    저희 Cs-Corr. TEM으로 ABF-STEM (Annular Bright Field STEM) 으로 산소와 같은 경원소에 대한 이미징이 가능합니다.

    그런데, 문의 사항에는 격자 내 vacancy를 관찰해달라고 했고, 비정질상에서의 vacancy는 TEM의 이론상 관찰이 불가능합니다.
    STEM이든 TEM이든 격자를 관찰하기 위해서는 기본적으로 결정상이어야 하고, vacancy 역시 결정구조 내에서 관찰이 가능할 것입니다.


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     > 안녕하세요 포항공대 화학공학과 한정우교수님 연구실 김형준입니다.
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    > ABF-STEM에 관해서 문의 드립니다.
    > 제가 La과 Cu를 CeO2에 이중 격자 치환한 샘플을 분석하려합니다.
    > 촉매 표면에 amorphous phase가 있는지 물질 구조와 결합을 확인하고,
    > 저희의 관점에서는 표면 defect라고 하면 oxygen vacancy라고 생각을 하는데요.
    > 표면의 defect도 확인할 수 있는지 궁금합니다.
    >
    > KBSI에 정희석 박사님께 연락을 드렸었는데요. 거리도 멀고 분석일정도 3월까지 차있어서
    > RIST에서 더 잘 측정해주시는 분들이 많으시다고 연락을 받아 분석 상담드리려 글 남깁니다.
    >
    > 일반적으로 TEM, STEM의 image 측정과 EDS 분석정도는 경험을 한적이 있습니다만
    > 고성능 STEM 장비는 처음 접하는 것이라서 답변 주시면 정말 감사드리겠습니다.
    >
    > 감사합니다.
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