• RIST 포항산업과학연구원
  • RIST 금속소재 신뢰성 DB
  • RIST 참조표준 DB

    • CONTACT US

    전체메뉴

    home > 장비소개 > 전체장비

    전체장비

    게시판 리스트
    [표면분석장비] 주사전자현미경(Field Emission Scanning electron microscope)
    장비유형
    표면분석장비
    기본원리
    전자현미경은 높은 에너지의 전자빔을 이용하여 전자가 시편과 충돌할 때 발생하는 이차전지,반사전자,투과전자,가시광선x-선등의 신호를 검출하여 모니터에 확대상을 표시하며, 시료의 형태,미세구조의관찰이나 구성원소의분포,정성,정량등을 분석하는 장치이다.
    모델명
    JEOL:JSM 7600F, HITACHI: S 4300SE
    구성 및 사양
    (1)JSM 7600F : Resolution- 1.0nm at 15kv, Magnification-x25-100k  (2)S 4300SE : Resolution -1.5nm at 15kv, Magnification-x25-50k
    활용분야
    미세 형상관찰 및 성분분석

    목록

    이전글
    투과전자현미경(Transmission Electron Microscope)
    다음글
    주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)

    COPYRIGHT(C) 2016 RIST. ALL RIGHTS RESERVED

    (37673) 포항산업과학연구원 분석평가센터 경상북도 포항시 남구 청암로 67.
    [CUSTOMER CENTER]
    TEL : 054-279-6951(상담) / 054-279-6950(접수 및 기타 진행)  /  FAX : 054-279-6660
    E-mail : analysis6951@rist.re.kr