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    전체장비

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    [미세조직 및 구조분석장비] 투과전자현미경(Transmission Electron Microscope)
    장비유형
    미세조직 및 구조분석장비
    기본원리
    200KV 고전압의 전자빔을 시험편에 조사시켜 투과 또는 회절되는 전자빔을 이용하여 시험편의 미세조직 관찰 및 구조분석을 실시하며, 이때 발생하는 특성X-ray를 수집하여 미소영역의 성분 분포및 정성 정량 분석을 실시함.
    모델명
    JEOL 2100F
    구성 및 사양
    (1)가속 전압 : 200KV  (2)TEM 분해능 : 0.19nm  (3)STEM 분해능 : 0.14nm
    활용분야
    (1)철강, 비철금속의 미소영역의 미세조직 관찰 및 구조분석  (2)강중 석출물의  정성, 정량분석, 분포분석 및 구조분석  (3)도금층 단면 표계면 미소 산화층 원소 분포 분석  (4)미소 Powder  단면 관찰 및 원소 분포 분석

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